Der 14. Europäische Mikroskopie Kongress (EMC 2008) in Aachen

Vier Jahre ist es her seit dem letzten Treffen der European Microscopy Society. Damals traf man sich in Antwerpen. Für dieses Jahr hatte man sich für Aachen als Austragungsort entschieden. Genauer gesagt für das dortige Eurogress Zentrum. Angesetzt war dieser Kongress für Anfang September. Über 1.500 Mitglieder waren vor Ort, was nicht verwundert, da die Society der Dachverband von insgesamt 28 nationalen Mikroskopie-Gesellschaften ist.

14. Europäische Mikroskopie Kongress (EMC 2008) in Aachen

Hauptsächlich ging es um die derzeitige Entwicklung der Mikroskopie Technologie, wozu es verschiedene Symposien, Sessions und Vorträge gab. Zu verschiedenen Hauptthemen wurden auch Keynote-Vorträge gehalten. Neben dem sehr vollen Fachprogramm gab es außerdem noch eine Ausstellung, bei der viele verschiedene Unternehmen der Umgebung vor Ort waren, die etwas mit der Mikroskopie, Zubehör oder entsprechenden Datenanalyse zu tun haben. Einen Rückblick auf den 14. EMC gibt es in diesem Rückblick.

Der 14. Europäische Mikroskopie Kongress in Aachen

14. Europäische Mikroskopie Kongress (EMC 2008) in AachenSeit den Anfängen dieser Konferenz findet sie alle vier Jahre statt. Nachdem man sich das letzte Mal 2004 in Antwerpen in Belgien getroffen hatte, war in diesem Jahr Aachen an der Reihe. Es war das erste Mal, dass sich der europäische Dachverband der Mikroskopie in Deutschland zusammengefunden hat. Auch wenn die EMC offiziell erst seit Anfang der 2000er Jahre besteht, gehen die Hintergründe des Verbandes schon bis in die fünfziger Jahre zurück. Deshalb war es in diesem Jahr auch schon der 14. Europäische Mikroskopie Kongress, der in Aachen stattgefunden hat. Dafür traf man sich am Eurogress Aachen. Das ist ein Zentrum für Kongresse und Veranstaltungen, das mehrere Säle bietet und auch direkt ein Hotel mit angebunden ist.

Der Kongress fand vom 1. bis zum 5. September 2008 statt und bot jede Menge Gelegenheiten für Fachvorträge, die zuvor eingereicht werden konnten und die im Anschluss in einer Publikation des Springer-Verlags veröffentlicht werden. Dazu wird auch eine CD-ROM erscheinen, die diese Informationen enthalten wird. Neben dem eigentlichen Kongress gab es zudem auch wieder eine Fachausstellung, bei der Unternehmen vor Ort waren, die mit der Mikroskopietechnik zu tun haben. Ebenso natürlich auch Zubehör und Materialien oder auch Software, die zur Analyse der Daten genutzt werden kann. Unter anderem waren das die Unternehmen Diatome Ltd., Zeiss, Oxford Instruments oder auch Hitachi High-Technologies. Eine genaue Übersicht gibt es auf der offiziellen Webseite des EMC 2008.

Das Programm vom EMC 2008

Das Wissenschaftskomitee bestand in diesem Jahr aus Rik Brydson aus Leeds, Jose Carracosa aus Madrid, Marie Chynet aus Grenoble, Thomas Gemming aus Dresden, Pavel Hozak aus Prag, Helmut Kohl aus Münster, Joachim Mayer aus Aachen, Reinhard Rachel aus Regensburg und Paul Walther aus Ulm. Über die Tage verteilt gab es verschiedene Symposien und Sessions, die sich an drei Hauptthemen orientierten. Das waren Instrumentierung und Methoden, außerdem Materialwissenschaft und Lebenswissenschaft. Dazu gab es sehr viele Vorträge und natürlich auch Keyvorträge in den jeweiligen Bereichen. Neben dem Fachprogramm gab es zudem auch Kurse, die wie Tutorien aufgebaut waren.

Die Keynote Vorträge waren „Aberration corrected STEM“ von A. Bleloch, „Instrumentation/Recent Results of Team Project“ von Uli Dahmen, „Microscopy and Synchrotron: state of the art and applications“ von J. Susini, „SMART-Project“ von Umbach, „Structural studies of ferroelectric oxides by aberration corrected TEM“ von K. Urban, „Direct observations of Defects in Nanotubes and Fullerenes“ von K. Suenaga, „Cell/protein tomography“ von W. Baumeister und Correlation AFM and cryo TEM“ von A. Engel. Diese Vorträge können auch im Nachhinein in entsprechenden Publikation zum EMC 2008 gefunden werden. Dazu kamen viele weitere Vorträge anderer Wissenschaftler.

Sonstige Vorträge waren unter anderem „Developments of aberration correction systems for current and future requirements“ von M. Haider und weiteren, „Determining resolution in the transmission electron microscope: object-defined resolution below 0.5Å“ von B. Freitag und C. Kisielowski, „Design of apochchromatic TEM composed of usual round lenses“ von S. Nomura, „Third-rank computation of electron and ion optical systems with several and rotated Wien filters“ von K. Marianowski und E. Plies, „Comparison of monochromated electron energy-loss with X-ray absorption near-edge spectra: ELNES vs. XANES“ von T. Walther und H. Stegmann sowie „The image intensity in Zernike mode with electrons“ von M. Beleggia.

Die European Microscopy Society

Bei der EMS handelt es sich um den europäischen Dachverband, dem 28 nationale Mikroskopie-Gesellschaften angehören. Der Verband hat sich zum Ziel gesetzt, den Einsatz und die Qualität der fortgeschrittenen Mikroskopie in Europa zu fördern. Dabei legt man den Fokus auf die Methodik und Instrumentierung. Platz wird sowohl der Rastersondenmikroskopie eingeräumt, als auch der Licht- und Elektronenmikroskopie. Zu den Aktivitäten gehört, dass regelmäßig der Europäische Mikroskopie Kongress im Verbund mit den nationalen Gesellschaften ausgetragen wird. Auch will man beim Austausch zwischen der Industrie und den Universitäten helfen, sowie generell zum Thema in der Gesellschaft aufklären.

Der heutige Dachverband geht zurück auf die siebziger Jahre, obschon es zuvor Mikroskopie Kongresse mit internationaler Ausrichtung gegeben hat. Den ersten gab es 1956 in Stockholm, vier Jahre später ging es in Delft in der Niederlande weiter. Zuerst wurde auch das Commitee of European Societies of Electron Microscopy gegründet. Die Organisation dieses Komitees war allerdings noch eher lose angelegt. Anfang der neunziger Jahre wurde von Wolfgang Baumeister, dem damaligen Präsidenten des CESEM, die Idee aufgeworfen, die European Microscopy Society zu gründen. In den folgenden Jahren wurde das weiter besprochen, vertieft und schließlich auch Anfang der 2000er Jahre umgesetzt.

Fazit zum EMC 2008 Kongress

Die Mikroskopie ist ein wichtiger Bestandteil der Wissenschaft, die auch nicht ganz jung ist, aber vor allem in den letzten Jahrzehnten große Fortschritte gemacht hat. Die technologischen Entwicklungen sorgen dafür, dass die Mikroskopie für immer genauere Ergebnisse sorgen kann. Allerdings umfasst das Thema auch vieles weitere wie zum Beispiel die Datenanalyse, da es nicht alleine damit getan ist, nur durch das Mikroskop zu schauen.

Mit der Entwicklung, der Förderung und dem Einsatz beschäftigen sich die vielen nationalen Verbände der Mikroskopie, die unter dem europäischen Dachverband EMS vereint sind. In Aachen fand jetzt der 14. Kongress dieser Society statt. Über fünf Tage Anfang September trafen sich mehr als 1.500 Teilnehmer, um zu verschiedenen Themen bezüglich der Mikroskopie zu sprechen. Die Inhalte können im Nachhinein in der entsprechenden Publikation eingesehen werden.

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